Typ dokumentu | Sygnatura | Autor | Tytuł | Część | Rok | Ilość woluminów | |
---|---|---|---|---|---|---|---|
KN |
Goldstein, Joseph, 1939- |
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy. |
2018 |
1 |
|