Skip to main content

Souborný katalog NPÚ (všechny knihovny)

online catalog

Dargestellte Vermerke 1-1 von insgesamt 1
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
?? %
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.
Goldstein, Joseph, 1939-
Newbury, Dale E.
Michael, Joseph R.
Ritchie, Nicholas W. M.
Scott, John Henry J.
Joy, David C., 1943-
publishInfo: New York : Springer, 2018
FACET_FDKd: Books
xxiii, 550 stran : ilustrace (převážně barevné). ; 29 cm
1 0
Ausgeliehen

Veranstaltung

RSS
Search history

Schnitte

[Loading...]